2025/02/03 TIL

**주제 :** 분류 알고리즘을 통한 고장 감지 및 예측

**목적 :**

반도체 공정 과정에서 관측한 **센서 데이터를 기반**으로 **불량품**을 분류하고 
예측하여 생산 공정 및 스마트 팩토리 운영의 효율성 증대

**(1) 시각화 및 EDA분석
(2) 결측치 처리 및 이상치 분석**

**(3) 머신러닝 분류 모델 사용**

- 로지스틱 회귀
- 랜덤포레스트
- XGBoost

**(4) 피처 중요도**

- 공정 품질 저하를 유발하는 변수의 분포에 따라 공정 품질 저하를 조기감지하고 
이에 따라 대응할 수 있는 해결책을 제시할 수 있다
- 시각화 분석의 결과와 머신러닝모델의 평가지표, 피처 중요도에 따라 공정 품질을 
높이고 불량률을 낮추는 등을 통해 결과값을 도출한다.