
| No. | Material | [ milli gram ] | [ At gram ] |
|---|---|---|---|
| 01 | IPA | - | 1.5 [g] |
| 02 | DI Water | 15 [ml] | 15 [g] |
| 03 | PVP | 15 [mg] | 0.015 [g] |
| 04 | Al2O3 Nanoparticles | 15 [mg] | 0.015 [g] |
| 05 | MoO3 Bis Dioxo Molybdenum (VI) | 2 [mg] | 0.002 [g] |
| 06 | Fe(No3)3 9H2O | 20 [mg] | 0.02 [g] |
- Color : Light Orange(밝은 오렌지 색)
[Coution]
- FeNo3 가 수분에 취약하므로 잘 보관
- Precursor 제작 후, 1~2주가 지나면 CNT Quality 감소
- IPA 먼저 Volume 측정, DI water 넣어서 섞은 후, FeNo3를 마지막에 넣는다
- Mixing in Sonicator in 1 hours (Change water every 30 minutes Because Heat)
- Before growth, sonicate in 15 minutes
- When Deeping the Catalyst, Deeping edge of substrate in solution
- Put it in a heater 110°C for 10 min
[Acetone & IPA]
- Acetone과 IPA(Isoproyl Alcohol)을 사용하여 Wafer에 남아있는 Particle 제거 및 Cleaning
- Acetone : Using Acetone to remove organic contaminants
- IPA : Using Isopropyl Alcohol(IPA) to remove residual Acetone and other contaminants
[Reactive Ion Etching]
- RIE를 통해 Acetone과 IPA로 Clean해도 남아있을 수 있는 잔여 Particle을 제거
- Wafer에 1 [min] 동안 Ozone Plasma 처리를 하여, 기존 Hydrophobic(소수성)의 Wafer 표면을 Hydrophilic(친수성)으로 변화
[Definition]
• Reactive Ion Etching (RIE) – Physical + Chemical / Ion + Radical
• Sputter Etching – Physical Etch / Using Ion
• Plasma Etching – Chemical Etch / Using Radical
[Process]
- Plasma Chamber 내부에 Gas 주입
- Energe 인가에 따른 전자 가속화
- Plasma 생성에 따른 Radical + Ion+ 생성
- Etchant 물질이 확산에 의해 Target 표면으로 이동 및 흡착
- Ion Bombardment에 의해 약해진 영역에서 Etchant 물질과 반응하여 휘발성 화합물 생성
- 화합물 표면 탈착
- 확산에 의한 배출
[RPM & Time]
Program Number : 29
1. 500 [RPM], 5 [sec] : 도포
2. 1350 [RPM], 60 [sec] : 균일화
[Bake Temp & Time]
180°C & 1 [Min]
[Schematic]
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[A | 00:00 ~ 00:05 | 0°C]
Ar : 1000 [SCCM]
CVD Chamber 안정화[B | 00:05 ~ 00:25 | 0~900°C]
H2 : 500 [SCCM]
Ar : 100 [SCCM]
CVD Chamber 안정화 + 900°C까지 가열[C | 00:25 ~ 00:30 | 900°C]
CH4 : 500 [SCCM]
H2 : 500 [SCCM]
CNT 성장[D | 00:30 ~ 02:00 | 900~0°C]
H2 : 500 [SCCM]
Ar : 100 [SCCM]
CVD Chamber Cooling
[PMMA Coating]
- HF가 CNT에 Damage를 주는 것을 막기 위해 CNT 위에 PMMA를 코팅함.
- Flim 형태로 Transfer 하기 쉽게 하기 위해 CNT 위에 PMMA를 코팅함.
[RPM & Time]
Program Number : 19
1. 500 [RPM], 5 [sec] : 도포
2. 3550 [RPM], 60 [sec] : 균일화
[Bake Temp & Time]
180°C & 1 [Min]
[E-Beam Maker]
OM, SEM 등으로 Sample을 확인하였을 때, 어느 위치를 확인하고 있는지 알기 위해 Wafer 바탕에 E-Beam으로 숫자 등의 표식을 Photo함.
[PMMA Coating]
Spin Coating된 PMMA가 Sample 겉에도 도포될 가능성이 있음.
따라서 [PMMA | CNT | SiO2] 층을 긁어서 제거하여 Lift Off를 위한 HF가 침투할 수 있도록 함.
[HF]
HF는 산화된 실리콘(SiO2)을 녹일 수 있음.
따라서 희석된 HF 용액에 Sample을 집어넣고 주위에 해당 용액을 떨어뜨려 파형을 만들어 줌.
해당 과정에서 HF가 SiO2를 녹이게 됨.
결국 PMMA에 CNT가 붙어있는 상태로 Lift Off 될 수 있음.