








포토 공정은 노광 공정을 포함하여 여러 단계를 거치고 회로 설계 이미지를 wafer에 그려내는 작업이다. 트랙 공정에서는 Photoresist를 도포하고 열처리 및 현상하는 작업을 진행한다. 현상 공정은 Puddle, Dipping, Spray 방식으로 나누어지고 공정 방식에 따라 장비 구조가 조금씩 달라진다.
이 과정은 Wafer Loading, Wafer Transfer, Exposure, Development 등의 단계로 구성된다. 각 단계에서 웨이퍼를 쌓고 Photoresist를 코팅하고 빛을 이용해 노광한 후 패턴을 현상하여 wafer에 원하는 회로를 정확히 그리는 역할을 한다.


식각 공정
식각 공정은 포토 공정에서 형성된 패턴을 따라 웨이퍼의 산화막을 깎아내는 공정이다. 주로 건식 식각 방식이 사용되고 원하는 패턴을 정밀하게 형성한다. 습식 식각은 클리닝 과정에서 사용되고 식각 공정은 크게 건식 식각과 습식 식각으로 나뉜다.
-건식 식각: 물리적, 화학적 반응을 이용한 Plasma 방식으로 높은 정밀도와 공정 컨트롤이 용이한 장점이 있지만 cost가 높고 처리량이 낮다는 단점이 있다.
-습식 식각: 화학 반응을 이용한 방식. 저비용에 공정이 쉽고 식각 속도가 빠른 장점이 있지만 정밀도가 낮고 공정 컨트롤이 어려운 단점이 있다.
이 두 방식은 각각의 장점과 단점에 따라 특정 공정 조건에 맞추어 선택하여 사용된다.

금속 배선 공정
금속 배선 공정은 반도체 소자의 동작을 위한 전기 신호 전달을 목적으로 금속 배선을 연결하는 과정임. 포토, 식각, 증착 공정 등을 통해 소자가 만들어진 후 전기 신호를 전달하기 위해 금속 배선을 형성한다.
-후공정
EDS (Electrical Die Sorting)
EDS 공정은 전기적 특성을 검사하여 소자가 규격에 맞는지 확인하는 과정이다. 이 공정을 통해 반도체 소자의 품질을 보증한다.
패키징
패키징은 소자를 외부 환경으로부터 보호하고 전기적으로 연결할 수 있는 배선을 형성하는 공정임. 이 공정은 반도체 소자의 내구성과 신뢰성을 높이는 데 중요한 역할을 함.
패키징 공정은 Back Grinding, Wafer Sawing, Die Attach, Wire Bonding, Molding, Marking, Solder Ball Mount, Saw Singulation의 순서로 진행된다. 각 단계는 반도체 소자의 보호와 전기적 연결을 보장하기 위한 다양한 기술을 포함
-전 공정을 거친 반도체 칩이 칩 반도체 역할을 수행할 수 있도록 만듦
-반도체 칩을 외부와 전기적으로 연결
-외부 환경으로부터 반도체 칩을 보호
이 과정을 통해 최종 반도체 소자는 안정적으로 외부 환경과 연결되고 보호된다.


계측 장비
계측 장비는 반도체 제조 공정에서 구조적, 표면적 분석을 통해 품질을 관리하는 장비이다. 각 공정마다 인라인 모니터링을 통해 평가 데이터를 분석하고 공정 레시피를 관리한다.
계측 장비는 전기적 검사를 포함하여 반도체 공정에 대한 성능 평가를 위한 장비로, wafer의 증착, 노광, 식각, 세정 공정마다 Inspection을 진행하고 각 공정 단계에서 품질 평가를 통해 공정 조건이 정확하게 충족되는지 확인한다.
이러한 계측 장비는 공정 내에서 발생하는 문제를 조기에 발견하고, 이를 수정함으로써 반도체의 품질과 신뢰성을 높이는 역할을 한다. 15. 정비(Maintenance)
정비는 반도체 장비의 정상적인 작동을 보장하기 위해 중요한 절차이다. 정비는 크게 예방 정비와 사후 정비로 나뉜다. 예방 정비는 소모품이나 노후된 부품을 정기적으로 교체하여 장비의 돌발 고장을 미리 방지하는 것이 목적이다. 주기적으로 연간, 반기, 분기, 월간 등으로 정기적 교체가 이루어지며, 이를 통해 이상 신호를 미리 발견하고 선제적으로 조치할 수 있다. 사후 정비는 장비에서 고장이 발생했을 때 고장 원인을 분석하고 해결하는 절차를 말한다. 소프트웨어 에러, 치명적 에러, 제품과 장비 간 불일치 등의 다양한 원인으로 결함이 발생할 수 있으며, 담당 팀이 장비를 점검하고 수리하는 과정을 포함한다.

출처: 한국반도체아카데미